型号:Thermo ESCALAB 250XI测试项目:UPS可以测试样品功函数和价带位置;更多测试要求请咨询客户经理。样品要求:1.样品状态:薄膜,样品平面尺寸一般要求5*5mm,*大不超过8*8mm,可以为正方形或者长方形,厚度*好不要超过1mm,样品要求具有一定导电性。2.粉体样品需要制备为薄膜,具体制备方法及要求如下:先把粉..
13122995162 立即咨询发布时间:2025-09-28 热度:91
型号:Thermo ESCALAB 250XI
UPS可以测试样品功函数和价带位置;
更多测试要求请咨询客户经理。
1.样品状态:薄膜,样品平面尺寸一般要求5*5mm,*大不超过8*8mm,可以为正方形或者长方形,厚度*好不要超过1mm,样品要求具有一定导电性。
2.粉体样品需要制备为薄膜,具体制备方法及要求如下:先把粉末样品分散在水或乙醇里(浓度尽量低点),滴在硅片上烘干,可以多循环几次,一定要保证膜表面尽量平整、均匀、连续、整洁,硅片尺寸5*5mm-5*8mm,厚度几百μm,涂完膜干燥后膜层以完全覆盖住硅片即可(膜层厚度10-50nm即可),膜层的电阻*好小于10兆欧,*大不能超过30兆欧。
**,由于UPS测量中光激发电子的动能在0-20eV范围,在此能量区间的电子逃逸深度较小,且随能量急剧变化,材料表面的导电性、污染程度和粗糙度等因素会对测量结果产生较大影响,轻则导致谱图的峰位移动和峰形变化,重则导致无信号。UPS适用于分析表面均匀洁净的导体以及导电性较好的半导体薄膜材料。对于合成的粉末样品,影响因素较多,UPS测试存在一定风险 ; 第二,UPS测试过程中,紫外光的扫描范围仅为样品中的某个微小区域,如果样品制备不均匀,或者测试区域恰好条件不佳,也可能会影响测试结果;
测试老师给出的只是分析结果仅供参考,因为测试老师不知道每个样品具体是什么材料,只能根据自己的习惯和经验大致作图分析,所以我们一般还需要根据对样品性质的了解,对数据分析结果微调甚至大的调整。
测试结果一般给出的是excel格式原始数据,可以提供教程自行作图分析。

型号:TA,耐驰测试项目:测试氛围:氮气,空气,氧气(注:氧气气氛只可以测到1000℃)测试温度:室温到1200℃1200℃以上请选择TG-DSC联用样品要求:1、样品含S、酸根、卤素大于1%的样品不可做。2、样品常规为粉末,块状,薄膜;如是液体样品请先联系项目经理确认。粉末干燥样品一般用量为3-10mg,小于3mg时,...

型号:TA,耐驰测试项目:TG:热稳定性、分解、氧化还原、吸附解吸、游离水与结晶水含量、成分比例计算...DSC: 熔融、结晶、相变、反应温度与反应热、燃烧热、比热...测试温度:室温-1300℃(测试温度超出1100℃,请先联系各地区老师)升降温速率:常规5-20℃/min(其它速率请联系各地区老师)测试气氛:...

型号:TA,耐驰测试项目:温度范围:-80~500 ℃(更低温度请联系客服经理)常用气氛:N2,氧化诱导期选O2(O2测试需要提前联系)可测试项目如下所示:玻璃化转变 相容性熔融、结晶热稳定性、氧化稳定性熔融热、结晶热反应动力学共熔温度、纯度热力学函数物质鉴别液相、固相比例多晶型比热样...

介绍霍尔效应测试仪,主要用于研究半导体材料/光电材料的电学特性,可以测量材料在不同温度、磁场下的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数及载流子类型。而这些参数是了解半导体材料电学特性必须预先掌控的,因此霍尔效应测试仪是理解和研究半导体器件和半导体材料电学特性必备的工具。可测试材料1.半导体材料:SiGe, S1...